智能型 納米粒度儀 TSM-A1
概述：
TSM超細(xì)顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器，用于測(cè)量超細(xì)顆粒的粒度分布。本儀器由主機(jī)，計(jì)算機(jī)和打印機(jī)，儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡(jiǎn)單，測(cè)量時(shí)間短，操作軟件良好的人機(jī)對(duì)話界面等優(yōu)點(diǎn)。可廣泛用于電子，光學(xué)，化工，醫(yī)藥等行業(yè)測(cè)量超細(xì)固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測(cè)顆粒的粒度分布和累積分布的測(cè)量結(jié)果，以及D32， Dv50等多種平均粒徑和比表面積。
主機(jī)內(nèi)包括光源，光學(xué)系統(tǒng)，測(cè)量樣品池，光電信號(hào)轉(zhuǎn)換及放大系統(tǒng)，A/D數(shù)據(jù)采集卡等。主機(jī)輸出信號(hào)通過(guò)USB電纜與計(jì)算機(jī)的USB口相連接，計(jì)算機(jī)對(duì)主機(jī)測(cè)量進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理，并打印輸出結(jié)果。
技術(shù)特點(diǎn)：
1、大功率白色光源
2、采用國(guó)產(chǎn)光譜接收器
3、集多年研究之成果，獨(dú)特消光理論的完美應(yīng)用
4、獨(dú)特反演算法，保證顆粒測(cè)量的準(zhǔn)確
5、USB接口，儀器與計(jì)算機(jī)一體設(shè)備，10.8寸觸摸屏，直接顯示數(shù)據(jù)與粒徑分布，可連接U盤、打印機(jī)、鼠標(biāo)等。
6、微量固定樣品池，超高感應(yīng)靈敏度，僅需少量樣品
7、軟件個(gè)性化，提供測(cè)量向?qū)У缺姸喙δ?，方便用戶操作?/span>
8、測(cè)量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時(shí)間等進(jìn)行調(diào)用分析，與其他軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；
9、儀器造型美觀，體積小重量輕；
10、測(cè)量精度高，重復(fù)性好，測(cè)量時(shí)間短；
11、軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測(cè)顆粒折射率要求；
12、考慮到測(cè)試結(jié)果的保密要求，只有授權(quán)操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫(kù)讀取數(shù)據(jù)和處理；
技術(shù)參數(shù)：
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型號(hào) |
TSM-A1 |
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光源功率 |
20W 12V 鹵素?zé)?/span> |
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接收器 |
國(guó)產(chǎn)光學(xué)光譜接收器 |
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粒徑測(cè)量范圍 |
0.05μm－10.0μm |
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重復(fù)測(cè)量誤差 |
< 2％ |
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測(cè)量誤差 |
<3％ (用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn))； |
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數(shù)據(jù)輸出 |
體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計(jì)平均直徑；操作者姓名、單位、樣品名；選用折射率，測(cè)量時(shí)間等相關(guān)信息。 |
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用戶登錄功能 |
可以設(shè)置多位用戶與密碼，由不同的人員操作 |
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審計(jì)追蹤功能 |
監(jiān)控每個(gè)用戶對(duì)設(shè)備的所有操作 |
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通訊接口 |
USB接口 |
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樣品池 |
固定樣品池4.5mL |
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測(cè)量分析時(shí)間 |
正常條件下小于1分鐘（從開始測(cè)量到顯示分析結(jié)果）。 |
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工作環(huán)境溫度 |
5－30 ℃； |
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電源 |
180－240V，50 Hz； |
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外形尺寸 |
320 mm×280 mm×120 mm； |
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重量 |
8kg |
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顯示方式 |
1. 1、內(nèi)嵌10.8寸超大工業(yè)級(jí)別的電腦，無(wú)需另配電腦，一體化設(shè)備 2. 2、預(yù)安裝軟件，無(wú)電腦適應(yīng)性問題，減少由于更換使用電腦，安裝驅(qū)動(dòng)錯(cuò)誤導(dǎo)致的連接等問題 3. 3、配置WIN 10系統(tǒng)，擁有32GB容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存，無(wú)需使用U盤轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)，儀器內(nèi)部即可存儲(chǔ)，操作方式觸摸屏與鼠鍵均可使用 |
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工作條件：
1.室內(nèi)溫度：15℃-35℃
2.相對(duì)溫度：不大于85%（無(wú)冷凝）
3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV，無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。
4.由于在微量級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量，儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上，并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量。
5.儀器不應(yīng)放在太陽(yáng)直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。
6.設(shè)備必須接地，保證安全和高精度。
7.室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無(wú)腐蝕性氣體。
工作原理：
消光法(Extinction)是光散射顆粒測(cè)量技術(shù)中的一種，又稱濁度法(Turbidimetry)。
消光法的原理簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，對(duì)儀器設(shè)備的要求較低，測(cè)量范圍相對(duì)較寬，下限為數(shù)十個(gè)納米，上限約10mm左右，測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好，測(cè)量速度快。因此，該方法不僅在膠體化學(xué)，高分子化學(xué)以及分析化學(xué)等實(shí)驗(yàn)室分析中得到了廣泛應(yīng)用，還在在線測(cè)量中得到越來(lái)越多的應(yīng)用，如對(duì)高分子聚合過(guò)程的測(cè)量和監(jiān)控，內(nèi)燃機(jī)排氣中固體微粒粒徑的測(cè)量，大型火力發(fā)電廠和原子能電廠中蒸汽濕度和水滴直徑的測(cè)量，煙塵排放濃度的監(jiān)控等。
消光法的測(cè)量原理如圖1所示。如果一束直徑遠(yuǎn)大于被測(cè)顆粒粒徑、強(qiáng)度為I0、波長(zhǎng)為λ的平行單色光入射到一含有被測(cè)顆粒群的介質(zhì)時(shí)，由于顆粒對(duì)光的散射和吸收作用，光的強(qiáng)度將受到衰減
測(cè)試界面-粒徑曲線:
測(cè)試界面-參數(shù)設(shè)置:
聯(lián)系電話
吳經(jīng)理：18930025157
王小姐：17717628761王先生：18930942331
固定電話：021-55236989
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